广州岳信生产的高压加速老化试验箱，可模拟高温、高压、高湿的严酷环境，对电子产品、半导体元件、电路板等进行可靠性检测，加速产品老化过程，快速发现潜在缺陷，符合JESD22-A102标准。
工厂采用高强度合金腔体设计，可承受最高2MPa压力，温度控制范围为100-132℃，湿度控制范围为60-100%RH，参数控制精准。设备配备智能数据采集系统，可实时监测试验数据，支持试验曲线生成与导出。
某半导体企业使用该设备后，快速检出芯片封装缺陷，产品可靠性提升40%；某电路板厂家借助其检测电路板老化性能，降