广州岳信专为电子元件研发的冷热冲击箱，可模拟快速高低温变化环境，对电阻、电容、芯片、传感器等电子元件进行高低温冲击可靠性检测，符合GB/T 2423.22标准，温度冲击范围-55℃至150℃。
工厂采用双箱式结构设计，高低温区独立控制，温度冲击速率快，切换时间短，配备精密温度控制系统，温度波动小。设备支持多段程序控制，可模拟不同的温度冲击循环曲线。
某电子元件厂家使用该设备后，元件高低温冲击失效故障率从6%降至0.4%；某传感器企业借助其检测产品性能，确保传感器在极端温度变化下测量精准。广州岳信提供免费电子元件冲击曲线设置服务。
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